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DDR5测试设备 —— DDR5-ET

       DDR5 ET设备是对DDR5 RDIMM/UDIMM/SODIMM进行Continuity Test和Function Test的专用设备,可以实现Open-Short检测、SPD管理、PMIC管理等功能, 还可以让DDR5模组在5600Mbps的速率下进行随机读写测试、地址遍历测试、数据线高翻转测试等功能测试。 对于DQ管脚、地址管脚开路和短路,可以直接报出出错的管脚;对于DDR5模组内部的某个地址的错误, 可以指出具体指出是颗粒序号、bank group、bank、行地址、列地址。DDR5 ET同时可以在5600Mbps速率下, 对DDR5模组进行压力测试,检测DDR5模组硬件可靠性。SPD管理可以对DDR5 RDIMM/UDIMM中的SPD 按字段进行修改, 且可以对SPD按bank 进行写保护设置。DDR5 ET设备的PMIC和TS功能,可以实时监控DDR5 RDIMM/UDIMM的电压和温度。 对于DDR5 Memory厂商而言,DDR5 ET是加速生产效率的利器,可以一分钟之内对DDR5模组进行全面的测试,并给出准确的测试结果。

        DDR5内存测试设备产品图
核心规格
器件支持 DDR5 RDIMM、DDR5 UDIMM、DDR5 SODIMM(须外接转接板)
最大支持速率 5600Mbps
测试效果 Electrical Test(Open-Short Test)+ Function Test( Test Patterns)
SPD 支持SN读写、任意字段读写、自动计算CRC、block写保护、SPD文件导入导出
PMIC管理 PMIC上电管理、实时监控电压
GUI/API 支持GUI管理,同时支持通过API与用户的测试流程对接
测试效果
Open-Short Test 功能测试+压力测试 测试时间
Open-Short问题可以直接指出具体出错的颗粒和DQ
  • 1.最高支持5600Mbps的速率
  • 2.针对性设计的Patterns可测试DDR5接口 稳定性、遍历完整内存地址
  • 3.支持接近100%接口带宽利用率下的压力测试
  • 4.随机激励等Patterns模拟真实使用场景
一分钟内完成整个测试流程
PMIC+TS
PMIC管理
  • 1.通过I2C打开和关闭RDIMM电压输出
  • 2.实时读取各个电压的数值
TS 实时读取内存条上温度传感器的温度数据
GUI/API
GUI
  • 1.设备登录以及状态监控
  • 2.SPD+PMIC+TS的访问
  • 2.添加删除RDIMM/UDIMM器件,导入测试程序
  • 2.选择Patterns并执行测试,将测试结果打印在界面并保存Log
API
  • 1.通过Http + Json提供API访问接口
  • 2.SPD+PMIC+TS的访问
  • 2.下发测试指令并回收测试结果
硬件配置
DDR5连接器
  • 1.定制化金属连接器
  • 2.支持10万+次的插拔
  • 3.可拆卸和替换
  • 4.单板同时包含RDIMM和UDIMM槽位
  • 5.支持插入检测
热插拔特性
  • 1.支持热插拔,不掉电的情况下插拔内存条
  • 2.内置完善的热插拔保护机制,保护ET设备和内存条不受损伤
全金属外壳 增加配重,增加操作时设备的稳定性
网口+指定灯
  • 1.设备通过千兆网口与GUI通信
  • 2.指示灯指示内存条插入状态、测试结果、测试结束标志等
GUI界面